Haeruddin H, Winata F, Tresnawan MIA, Wijaya G, Wijayanto Aripradono H. Integrasi Feature Engineering dan SMOTE pada Algoritma Random Forest untuk Prediksi Kerusakan Chip RFID di Industri Sel Surya. josh [Internet]. 31Jan.2026 [cited 25Jul.2026];7(2):599-0. Available from: https://ejurnal.seminar-id.com/index.php/josh/article/view/9038