Haeruddin, H., F. Winata, M. I. A. Tresnawan, G. Wijaya, and H. Wijayanto Aripradono. “Integrasi Feature Engineering Dan SMOTE Pada Algoritma Random Forest Untuk Prediksi Kerusakan Chip RFID Di Industri Sel Surya”. Journal of Information System Research (JOSH), Vol. 7, no. 2, Jan. 2026, pp. 599-0, doi:10.47065/josh.v7i2.9038.