H. Haeruddin, F. Winata, M. I. A. Tresnawan, G. Wijaya, and H. Wijayanto Aripradono, “Integrasi Feature Engineering dan SMOTE pada Algoritma Random Forest untuk Prediksi Kerusakan Chip RFID di Industri Sel Surya”, josh, vol. 7, no. 2, pp. 599-609, Jan. 2026.