Haeruddin, H., Winata, F., Tresnawan, M. I. A., Wijaya, G., & Wijayanto Aripradono, H. (2026). Integrasi Feature Engineering dan SMOTE pada Algoritma Random Forest untuk Prediksi Kerusakan Chip RFID di Industri Sel Surya. Journal of Information System Research (JOSH), 7(2), 599-609. https://doi.org/10.47065/josh.v7i2.9038