Haeruddin, H., Winata, F., Tresnawan, M.I.A., Wijaya, G. and Wijayanto Aripradono, H. 2026. Integrasi Feature Engineering dan SMOTE pada Algoritma Random Forest untuk Prediksi Kerusakan Chip RFID di Industri Sel Surya. Journal of Information System Research (JOSH). 7, 2 (Jan. 2026), 599-609. DOI:https://doi.org/10.47065/josh.v7i2.9038.